Röntgendiffraktometrie (XRD)

Leiter

Dr. Christina Günter

E-Mail:
guenter@geo.uni-potsdam.de
Telefon:
+49 331 977 5605
Fax:
+49 331 977 5700
Arbeitsgruppenbild Allgemeine Geologie

Beschreibung

Röntgendiffraktometrie (XRD vom engl. X-ray diffraction) basiert auf der elastischen Streuung (Beugung) von Röntgenstrahlen an Netzebenen von Kristallen. Die gebeugten Strahlen weisen einen Gangunterschied auf und interferieren gemäß dem Bragg'schen Gesetz. Die Winkel, unter denen konstruktive Interferenz auftritt, stehen in direktem Zusammenhang zu den Netzebenenabständen, und somit zur analysierten Mineralphase.

Unser Gerät wird im Reflexionsmodus benutzt und ist mit einem winkeldispersiven Detektor ausgestattet, der eine schnelle Datenerfassung ermöglicht.

Anwendungsgebiete schließen ein: Bestimmung von Mineralphasen und Gitterparametern, Reinheitskontrollen von Materialien, Orientierungsbestimmung von Einzelkristallen.

Geräte

Siemens D5005 Röntgendiffraktometer mit Cu-Anode und vertikalem Kreisgoniometer

Optional kann ein Mikrofokussystem zur Analyse kleiner Proben eingesetzt werden.

Software

DIFFRACplus BASIC, zur Bedienung und Kontrolle des Gerätes

DIFFRACplus EVA, zur Datenauswertung

ICDD Pulverdiffraktionsdatenbank (PDF4), zur Mineralphasenbestimmung